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簡要描述:變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀0.2級通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號處理器運(yùn)用數(shù)字化實時采集方法,通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。
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概 述
HTJSY-B變頻介質(zhì)損耗測試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或?qū)嶒炇覝y試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。
變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀0.2級測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz,采用數(shù)字陷波技術(shù),避開了工頻電場對測試的干擾,從根本上解決了強(qiáng)電場干擾下準(zhǔn)確測量的難題。同時適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油介質(zhì)損耗。
儀器主要具有如下特點:
l 超大液晶中文顯示
操作簡單,儀器配備了的全觸摸液晶顯示屏,超大全觸摸操作界面,每過程都非常清晰明了,操作人員不需要額外的專業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點擊一下就能完成整個過程的測量,是目前理想的智能型介損測量設(shè)備。
l 海量存儲數(shù)據(jù)
儀器變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀0.2級內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲器,保存數(shù)據(jù)200組,能將檢測結(jié)果按時間順序保存,隨時可以查看歷史記錄,并可以打印輸出。
l 科學(xué)*的數(shù)據(jù)管理
儀器數(shù)據(jù)可以通過U盤導(dǎo)出,可在任意一臺PC機(jī)上通過我公司軟件,查看和管理數(shù)據(jù)。
l 多種測試模式
儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測試;在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓(大于10kV)介質(zhì)損耗。
l CVT測試一步到位
該儀器還可以測試全密封的CVT(電容式電壓互感器)C1、C2的介損和電容量,實現(xiàn)了C1、C2的同時測試。該儀器還可以測試CVT變比和電壓角差。
l 不拆高壓引線測量CVT
儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。
l CVT反接屏蔽法測量C0
儀器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。
l 高速采樣信號
儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制,輸出電壓連續(xù)可調(diào)。
二 工作原理
測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號處理器運(yùn)用數(shù)字化實時采集方法,通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。
介質(zhì)損耗測試儀 (體積小、重量輕)
三 主要技術(shù)參數(shù)
1使用條件
-15℃∽40℃
RH<80%
2
抗干擾原理
變頻法
3
電 源
AC 220V±10%
允許發(fā)電機(jī)
4
高壓輸出
0.5KV∽10KV
每隔0.1kV
精 度2%
大電流 200mA
容 量
2000VA
5
自激電源
AC 0V∽50V/15A
50HZ、60HZ單頻
45HZ/55HZ 47.5HZ/52.5HZ
55HZ/65HZ 57.5HZ/62.5HZ
自動雙變頻
6
分 辨 率
tgδ: 0.001%
Cx: 0.001pF
7
精 度
△tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)
△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)
8
測量范圍
tgδ
無限制
C x
15pF< Cx < 300nF
10KV
Cx< 60 nF
5KV
Cx< 150 nF
1KV
Cx< 300 nF
CVT測試
Cx< 300 nF
9
CVT變比范圍
10∽10000
CVT變比精度
0.1%
CVT變比分辨率
0.01
10
外型尺寸(主機(jī))(mm)
350(L)×270(W)×270(H)
外型尺寸(附件箱)(mm)
350(L)×270(W)×160(H)
11
存儲器大小200組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲
三.變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀
在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時,電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖2所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號處理器運(yùn)用數(shù)字化實時采集方法,通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。